電子設備絕大部分的故障最終都是由元器件老化損壞引起，如熟悉各種器件的特性，損壞機理及故障類型，就能依賴萬用表簡單測電阻，導通壓降等很快找出故障，所以了解熟悉電子器件的失效機理和故障現象，對發現分析解決故障有很大幫助。

主要是晶體管，二極管，MOS管，可控硅等，其中關鍵測試PN結，失效原因一般是設計制造質量，過壓，過流，溫度，潮濕，老化等引起。

常見故障有：

1）擊穿：常由于PN結被電壓，電流打壞，引起正反向電阻接近或導通接近0，用數字表PN結檔測量很容易測出。但是對一些軟故障如熱擊穿要一定條件下才能出現解決。

2）開路：往往是通過電流過大引起，同上測PN結很容易發現，正反向電阻都無窮大。

3）放大倍數變化，性能下降且受溫度影響引起，一般對數字電路影響不大。對模擬放大電路可能引起失真噪音或嘯叫。

4）驅動性能下降或失效：對MOS管，由于其柵極一不小心就會被靜電擊穿造成管子損壞，所以搬移安裝中千萬注意；可控硅的控制極也有可能擊穿損壞，檢測中要注意。

不同晶體管結構不同，檢查方法也不同，MOS管測內部寄生二極管(續流二極管）

只要擊穿了該管子也損壞了。對可控硅從等效電路圖來測相應的數值判斷。